ホーム > 矢野 裕司/ Yano, Hiroshi

矢野 裕司

Yano, Hiroshi

数理物質系 , 准教授
Institute of Pure and Applied Sciences , Associate Professor

関連記事はまだありません。

オープンアクセス版の論文は「つくばリポジトリ」で読むことができます。
  1. 1. チャージポンピング法によるMOS界面欠陥評価のための＋αの研究技術 矢野, 裕司
      Oyo Buturi 93: 179 - 183 (2024)
  2. 2. 1.2-kV SiC MOSFET負荷短絡耐量の温度依存性解析 鈴木一広; 矢野裕司; 岩室, 憲幸
      令和6年電気学会全国大会 講演論文集 4: 34 - 35 (2024)
  3. 3. SiC-MOSFET 内蔵PiNダイオードの特性解析 菊池真矢; 矢野裕司; 岩室, 憲幸
      令和6年電気学会全国大会 講演論文集 4: 32 - 33 (2024)
  4. 4. 4H-SiC横型p-ch SJ-MOSFETのゲート－ドレイン間寄生容量特性解析 森海斗; 岩室憲幸; 矢野, 裕司
      令和6年電気学会全国大会 講演論文集 4: 37 - 38 (2024)
  5. 5. 4H SiC横型p-ch SJ-MOSFETのオン抵抗と寄生容量の関係評価 森海斗; 岩室憲幸; 矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第10回講演会 予稿集 101 - 102 (2023)
  6. 6. SiCトレンチMOSFETへの電子線照射効果 松木康太郎; 辻崇; 小野澤勇一; 岩室憲幸矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第10回講演会 予稿集 103 - 104 (2023)
  7. 7. ACゲートストレスによるSiC MOSFETのしきい値電圧とサブスレッショルドスイングの変動評価 円城寺佑哉; 岩室憲幸; 矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第10回講演会 予稿集 105 - 106 (2023)
  8. 8. Trap distribution in 4H-SiC MOSFETs analyzed by a 3-level charge pumping technique Akiba, Atsuhiro; 岩室憲幸; Yano, Hiroshi
      Abstract of International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2023 (ICSCRM 2023) C.1 (2023)
  9. 9. Threshold voltage drift mechanism in SiC MOSFETs under AC gate stress Enjoji, Yuya; 岩室憲幸; Yano, Hiroshi
      Abstract of International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2023 (ICSCRM 2023) Mo.C.11 (2023)
  10. 10. The effect of biaxial strain on the phonon-limited mobility in 4H-SiC MOSFETs Fu, Wei; Yano, Hiroshi; Sakurai, Takeaki; Ueda, Akiko
      APPLIED PHYSICS EXPRESS 16: 081002-1 - 081002-6 (2023) Semantic Scholar
  11. 11. Investigations of Residual Damage in SiC Trench MOSFETs after Single and Multiple Short-Circuit Stress 髙橋光希; 矢野裕司; Iwamuro, Noriyuki
      Proceedings of the 35st International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs 250 - 253 (2023)
  12. 12. チャージポンピング法を用いたpチャネルSiC MOSFET の界面特性評価 秋葉淳宏; 矢野, 裕司
      第70回応用物理学会春季学術講演会 予稿集 12-095 (2023)
  13. 13. Comparative study on short-circuit and surge current capabilities of 1.2 kV SiC SBD-embedded MOSFETs 柏佳介; 髙橋光希; 北村雄大; 矢野裕司Iwamuro, Noriyuki
      JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 62: SC2073-1 - SC1073-10 (2023) Semantic Scholar
  14. 14. バイポーラACゲートストレス印加によるSiC-MOSFETのしきい値電圧変動評価 円城寺佑哉; 岩室憲幸; 矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第9回講演会 予稿集 75 - 75 (2022)
  15. 15. Study on enhancing of the surge current capabilities of embedded SBDs in SWITCH-MOSs and body-PiN-diodes in SiC trench MOSFETs 北村雄大; 加藤史樹; 田中聡; 俵 武志 (+3 著者) Iwamuro, Noriyuki
      JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 62: SC1007-1 - SC1007-9 (2022) Semantic Scholar
  16. 16. 3レベルチャージポンピング法を用いたSiC MOSFETの界面特性評価：酸化膜窒化処理と界面欠陥量の関係 秋葉淳宏; 矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第9回講演会 予稿集 73 - 74 (2022)
  17. 17. モノリシック相補型インバータに向けた4H-SiC横型p-ch SJ-MOSFETの構造設計 森海斗; 岩室憲幸; 矢野, 裕司
      先進パワー半導体分科会 第9回講演会 予稿集 91 - 92 (2022)
  18. 18. Significant Improvement of Switching Characteristics in a 1.2-kV SiC SWITCH-MOS by the Application of Kelvin Source Connection 松井ケビン; 俵 武志; 原田, 信介; 田中聡 (+2 著者) Iwamuro, Noriyuki
      IEEJ TRANSACTIONS ON ELECTRICAL AND ELECTRONIC ENGINEERING 18: 278 - 285 (2022) Semantic Scholar
  19. 19. SiCパワーデバイスの高性能化・高信頼化に向けた課題と取り組み 矢野, 裕司
      結晶加工と評価技術 第145委員会 第176回研究会資料 22 - 28 (2022)
  20. 20. Experimental Demonstration of the Surge Current Capability of Embedded SBDs in 1.2-kV SiC SBD-integrated Trench MOSFETs with Ti and Ni as Schottky Metals 北村雄大; 俵 武志; 原田, 信介; 矢野裕司Iwamuro, Noriyuki
      Extended Abstracts of 2022 International Conference on Solid State Devices and Materials 701 - 702 (2022)
1 2 3 … 9
  1. 1. 次世代パワー半導体の開発動向と応用展開 矢野, 裕司
    シーエムシー出版 2021年8月 (ISBN: 9784781316130)
  2. 2. Compound Semiconductor An, Junjie; Namai, Masaki; Tanabe, Mikiko; Okamoto, Dai; Yano, Hiroshi; Iwamuro, Noriyuki (担当:分担執筆, 範囲:Making a debut: the p-type SiC MOSFET)
    Angel Business Communications publication 2017年6月

 1,398 total views